- 【课程对象】 研发工程人员，品质管理人员，品质工程师，生产制造管理人员等设计开发（APQP）团队成员、体系负责人/工程师
【课程时间】1人天或2人天（6H/人天）
【课程背景】
正确认识并掌握设计开发统计工具的应用，灵活应用统计手法，帮助企业即时侦测到异常状况，迅速做出改进的对策。帮助企业有效的降低不良率，提升产品品质，从而达到真正降低成本，提升制程品质的目的！
【课程收益】
- 1、理解SPC基本术语知识在工作中的应用；
- 2、灵活应用SPC，帮助企业即时侦测到过程异常状况，即刻分析过程异常的原因，迅速做出改进的对策；
- 3、熟练的掌握并运用SPC，帮助企业有效的降低不良率，提升产品品质，从而达到真正降低成本，提升制程品质的目的！
- 【课程特色】课程实战，学之能用；结合企业实际案例，有案例有模板！采用“启发互动式教学+课堂讲解+案例分析+小组讨论与练习+现场答疑”，使参训学员现场就能学以致用！
- 【课程对象】 研发工程人员，品质管理人员，品质工程师，生产制造管理人员等设计开发（APQP）团队成员、体系负责人/工程师
【课程时间】1人天或2人天（6H/人天）
【课程大纲】
SPC演进回顾
- 什么是SQC
- SQC的精神
- 什么是SPC
- SPC演进史
- 为什么实施SPC
- SPC的作用
- SPC成功的条件
- SPC失败的原因
- SPC的重点与难点
- 基本统计
- 变差、波动源
- 群体VS样本
- 描述制程变化的量
- SST和SLT的差异
- 正态分布（Normal Distribution）
- 正态分布的定义
- 正态分布曲线下的面积
- 如何计算正态分布和“工序西格玛Z”
- 分组练习一：根据案例，讨论以下问题：
- 计算 ZUSL、ZLSL，并求出相应的缺陷概率
- 正态分布的位置、形状与过程能力的关系图
- 管制图
- 制程或系统变异的来源
- 制程的两种类型
- 变异的两种原因及比较
- 两种原因的表现形式
- 两种原因的对策
- 两种原因的差异
- 变异的两种原因 — 过程控制及能力
- 两种原因的比较
- 两类错误的对比及关系
- 管制图的原理
- 规格界限与管制界限
- 管制图的种类
- Xbar-R管制图的管制界限及绘制步骤
- 确定管制特性
- 案例解析
- 数据收集
- 子组大小
- 子组频率
- 数据收集 — 分组原则
- 计算Xbar、Ri
- 计算Xbar、R
- 计算R及Xbar图的界限
- 绘制R图
- 绘制Xbar图
- 计算制程能力
- 列入日常管理
- 两种控制图应用示意说明
- 两种控制图应用比较
- 分组练习二：根据案例，讨论以下问题：
- 计算Xbar、R
- 其他管制图选定的原则
- 控制界限更换篇
- 控制界限更换时机
- P管制图及绘制步骤
- 确定管制项目
- 收集数据
- 分组
- 计算每组的不良率p
- 计算平均不良率
- 计算管制界限
- 绘制管制界限
- 描点
- 判定制程是否稳定
- 分组练习三：根据案例，讨论以下问题：
- 绘制不良品率P管制图
- P 管制图控制界限更换篇
- 控制界限更换时机
- 两类管制图的比较
- 管制图的稳定状态的判定
- 管制图不稳定的七种模式
- 分析Xbar-R管制图异常原因
- 分析P管制图异常原因
- 过程异常处理案例解析
- 管制图的选择
- 掌握制程控制之主要因素
- SPC能解决的问题
- 制程能力分析
- 什么是制程能力
- 为什么要研究制程能力
- 计量型管制图分析过程能力的前提
- P 图分析过程能力的前提
- 制程能力指数Cp
- 双边规格的制程能力指数Cp
- 三种类型情况
- Cp的评估标准
- 有偏移时的制程能力指数CpK
- 什么是制程绩效指数Pp
- 双边规格的制程绩效指数Pp
- 有偏移时的制程绩效指数PpK
- Cp与Pp的对比及应用及联合使用
- Cp与Pp的对比
- Cp与Pp的对比及应用及联合使用
- Cp与Pp概念理解
- Cpk和Ppk的差异
- 过程能力与过程性能
- 制程能力分析之用途
- 制程能力评价之时机
小结
杨家来